کاربر محترم ، برای خرید یا دانلود محصولات ثبت نام کنید.  ورود یــا ثبت نــام سریع در ســایت

فیلتر هـــا

نوع محصول

نماد اعتماد الکترونیکی

این محصول دانلودی است و بلافاصله پس از پرداخت لینک دانلود در اختیار شما قرار می گیرد

آنالیز میکروسکوپ تونلی روبشی STM و میکروسکوپ نیروی روبشی SFM

دانلود : 14200 تومــان

کد محصول : #2464

فعال در گروه : ترجمه مقاله

scanning tunneling microscope (STM) 


Scanning Force Microscopy (SFM)


آنالیز میکروسکوپ تونلی روبشی STM و میکروسکوپ نیروی روبشی  SFM


ABSTRAC


Scanning tunneling microscopy (STM) and its offspring, scanning force microscopy (SFM) , are real-space imaging techniques that can produce topographic images of a surface with atomic resolution in all three dimensions. Almost any solid surface can be studied with STM or SFM : insulators, semiconductors, and conductors, transparent as well as opaque materials. Surfaces can be studied in air, in liquid, or in ultrahigh vacuum, with fields of view from atoms to greater than 250*250um. With this flexibility in both the operating environment and types of samples that can be studied, STM/SFM is a powerful imaging system.


 جهت دانلود رایگان نسخه لاتین این مقاله اینجا کلیک کنید .



چکیده


آنالیز میکروسکوپ تونلی روبشی (STM) و نسل آن، میکروسکوپ نیروی روبشی (SFM) روش های تصویربرداری با اندازه حقیقی هستند که می توانند تصاویر توپوگرافیک سطح با وضوح اتمی در هر سه بعد ایجاد کنند. تقریبا همه سطوح جامد می توانند با STM و SFM مطالعه شوند: عایق ها، نیمه رساناها و رساناها، مواد شفاف و همچنین مواد اپک. سطوح می توانند در هوا، در مایع یا در خلا بسیار بالا با دامنه دید در حد اتمی تا 250×250μm بررسی شوند. با این انعطاف در محیط کاری و انواع نمونه ها که می توانند بررسی شوند، STM/SFM یک سیستم تصویربرداری قدرتمند است.


 جهت دانلود ترجمه تخصصی و فارسی این مقاله می توانید وجه آنرا پرداخت نموده و بلافاصله دریافت نمایید.


پرداخت انلاین

تعداد صفحات مقاله لاتین 13
تعداس صفحات ترجمه فارسی 13
قالب بندی word ( قابل ویرایش )
حجم 741KB

محصولات مشـــابه

ارســـال نظـرات

لطفا برای ارسال نظرات خود برای این محصول فرم زیر را کامل کنید .

Scroll