کاربر محترم ، برای خرید یا دانلود محصولات ثبت نام کنید.  ورود یــا ثبت نــام سریع در ســایت

فیلتر هـــا

نوع محصول

نماد اعتماد الکترونیکی

این محصول پس از پرداخت بصورت پستی به آدرس شما ارسال می شود

آموزش آنالیزآزمون XRD با استفاده از نرم افزار Xpert High Score plus

ارسال پستی : 25000 تومــان

کد محصول : #2852

فعال در گروه : کتب دانشگاهی و پایه مواد

این کتاب به اتمام رسیده و در انبار موجود نیست


 


در سال هاي اخیر نرم افزار هاي مختلفی به منظور تحلیل نتایج آزمون پراش اشعه ي ایکس طراحی شده اند. یکی از معروف ترین این نرم افزار X’Pert HighScore Plus است که به طور گسترده اي درکشور هاي مختلف و از جمله ایران براي شناسایی فازي مورد استفاده قرار می گیرد. علاوه بر شناسایی فازي، امکانات جانبی این نرم افزار همچون تعیین اندازه ي کریستالیت، تعیین درصد فاز آمورف، تعیین درصد کرنش کریستال، آنالیز کریستالوگرافی به روش Rietveld و ... موجب شده است که این نرم افزار قدرتمند، کاربردهاي بیشتري را نیز در بر بگیرد.


کتاب حاضر در صدد آن است که آموزش درستی را از تمام امکانات و ویژگی هاي نرم افزار ارائه کرده و خطاهاي احتمالی ناشی از آشنایی ناقص با آن را به حداقل برساند. به همین منظور در پایان هر فصل تعدادي تمرین در نظر گرفته شده است تا خواننده همگام با مطالعه ي کتاب، تسلط خود را مورد سنجش قرار دهد. مطالعه ي این کتاب به تمامی اساتید، دانشجویان و پژوهشگرانی که به دنبال آشنایی با نحوه ي کار با نرم افزار X’Pert HighScore Plus هستند توصیه می کنیم.


سرفصل ها


بخش 1 آشنایی مقدماتی


فصل اول اشعه ایکس : مقدمه، تولید اشعه ایکس، پراش پرتو ایکس و رابطه براگ، روشهاي شناسایی با استفاده از پراش پرتو ایکس، تکنیک لاوه،روش کریستال چرخان،روش پودري یا روش دباي شرر،دیفرکتومتري


فصل دوم– نرم افزارهاي شناسایی فازي، مقدمه، معرفی نرم افزارهاي شناسایی فازي


فصل سوم– آشنایی مقدماتی با نرم افزار  X’Pert HighScore Plus، نصب نرم افزار X’Pert HighScore Plus، به روز رسانی پایگاه داده نرم افزار، آشنایی مقدماتی با محیط نرم افزار، منوي File، منوي Edit، منوي view، منوي Window، معرفی لینکهاي مرتبط


بخش 2 شناسایی فازي و تهیه گزارش


فصل چهارم- شناسایی فازي، تنظیمات اولیه، بارگذاري الگوي پراش در نرم افزار، تنظیم محورهاي نمودار،مکان یابی پیک ها، پنجره Search Peaks، دستور Insert Peaks، تنظیمات نمایش الگوي پراش پس از مکان یابی، حذف پیک Kα2، شناسایی فازي، پنجره Search & Match، سربرگ Restriction، سربرگ Parameters، سربرگ Automatic، تحلیل کاندیداها،انتخاب مرجع شناسایی الگوي پراش، بارگذاري الگوهاي مرجع با استفاده از کارت مرجع، بارگذاري الگوهاي مرجع با استفاده از مشخصات کیفی، بارگذاري الگوهاي مرجع با استفاده از مشخصات کریستالوگرافی، بارگذاري الگوهاي مرجع با استفاده از مشخصات شیمیایی و فیزیکی


فصل پنجم - گزارش گیري، مقدمه، برچسب زدن بر روي پیک ها، هموارسازي، گزارش گیري استاندارد، گزارش گیري غیراستاندارد، زیرهم قراردادن الگوهاي پراش در نرم افزار Excel


بخش 3  محاسبات عمومی، محاسبات پیشرفته و آنالیز ریتولد


فصل ششم - محاسبات عمومی مقدمه، محاسبه اندازه بلورك ها به روش شرر، محاسبه اندازه دانه به روش ویلیامسون - هال،محاسبه گرهاي جانبی منوي Tools، محاسبه گر Bragg، محاسبه گر Alpha/Beta، محاسبه گر MAC


فصل هفتم - محاسبات پیشرفته، آنالیز نیمه کمی، محاسبه مقدار فاز آمورف


فصل هشتم- آنالیز Rietveld، مقدمه، حذف خطاهاي مربوط به دستگاه با روش ریتولد، محاسبه میزان فاز آمورف به روش ریتولد

نویسنده محمد ذاکری، مرتضی نیازمند، سامان صفیان، علی رهبری
ناشر نخبگان شریف
سال انتشار 1395
تعداد صفحات 155
زبان فارسی
نوبت چاپ اول
شابک 978-600-96900-2-2
برای این محصول فایلی برای دانلود وجود ندارد

محصولات مشـــابه

ارســـال نظـرات

لطفا برای ارسال نظرات خود برای این محصول فرم زیر را کامل کنید .

Scroll