مهاجرت مرزدانه به علت عدم تعادل شیمیایی

Interface migration under chemical in equilibrium

چکیده

هنگامی که یک جامد پلی کریستالی در دماهای بالا از نظر شیمیایی ناپایدار می شود، واکنش های متعادل کننده در یک بازه زمانی معقول اتفاق می افتند تا یک محلول جامد جدید در تعادل شیمیایی تشکیل شود. بعضی اوقات واکنش های متعادل کننده از طریق نفوذ معمولی شبکه صورت نمی گیرد، بلکه از طریق مهاجرت مرزدانه رخ می دهد که همراه با نفوذ مرز است و موجب تشکیل یک محلول جامد جدید در پشت مرزهای مهاجرت کننده می شود ۴۰-۳۶. این پدیده به عنوان مهاجرت مرز دانه ناشی از نفوذ (DIGM) یا مهاجرت مرز دانه شیمیایی (CIGM) نامیده می شود.

هنگامی که یک فیلم مایع در یک سیستم دو فازی مایع-جامد با فیلم مایع بین دانه ها مهاجرت می کند، پدیده مهاجرت فیلم مایع ناشی از نفوذ (یا شیمیایی) یا به سادگی، مهاجرت فیلم مایع (LFM) نامیده می شود. برای هر دو مورد مهاجرت مرز دانه و فیلم مایع اصطلاح مهاجرت فصل مشترک ناشی از نفوذ (یا شیمیایی) (DIIM یا CIIM) استفاده می شود. DIIM در تعدادی سیستم مشاهده شده است ۵۴-۴۱ اما بیشتر در سیستم هایی با عناصر حل شونده جانشینی رایج است. اما اخیراً مشخص شده است که تغییر در غلظت عیوب نیز موجب مهاجرت فصل مشترک می شود ۵۳-۵۲. شکل ۱-۸ یک ساختار معمول DIGM است که موقعیت مرزهای دانه قبل و بعد از مهاجرت را نشان می دهد. موقعیت اصلی مرزهای مهاجر با اچ حرارتی قبل از مهاجرت نمایان می شود.

جهت دانلود ترجمه تخصصی و فارسی این مقاله می توانید وجه آنرا پرداخت نموده و بلافاصله دریافت نمایید.

ABSTRACT

When a polycrystalline solid becomes chemically unstable at high temperatures, equilibration reactions occur in a reasonable time span to form a new solid solution in chemical equilibrium. Sometimes the equilibrating reactions do not occur by conventional lattice diffusion but with boundary migration accompanied by boundary diffusion, forming a new solid solution behind the migrating boundaries.36–۴۰ This phenomenon is referred to as ‘Diffusion- Induced Grain-boundary Migration (DIGM)’ or ‘Chemically Induced Grainboundary Migration (CIGM)’.

When a liquid film migrates in a solid–liquid two-phase system with a liquid film between grains, the phenomenon is called ‘Diffusion-Induced (or Chemically Induced) Liquid Film Migration’ or, simply, ‘Liquid Film Migration (LFM)’. For both grain boundary and liquid film migration the term ‘Diffusion-Induced (or Chemically Induced) Interface Migration (DIIM or CIIM)’ is used. DIIM has been observed in a number of systems,41–۵۴ but is most common in systems with substitutional solute elements. Recently, however, a change in defect concentration has also been found to induce interface migration.52,53 Figure 8.1 is a typical microstructure of DIGM showing the position of grain boundaries before and after the migration. The original position of the migrating boundaries is revealed by a thermal etching before the migration.