فایل ورد و پاورپوینت آنالیز طیف نگاری فوتو الکترون پرتو ایکس (xps)

نمره 0 از 5
امتیاز: 0 از 0
منقضی شده
30,000 تومان 25,000 تومان
فروش
2

توضیحات

امروزه روش های آنالیز و شناسایی مواد، بسیار حائز اهمیت شده است. چرا که خواص فیزیکی و شیمیایی یک محصول به نوع مواد اولیه و ریزساختار آن بستگی دارد. بنابراین، به جهت شناسایی ویژگی ها و خواص یک ماده برای انجام پژوهش و نیز کنترل کیفیت محصولات صنعتی، نیاز به روش ها و تجهیزات شناسایی است. روش های آنالیز را می‌ توان به سه دسته کلی زیر تقسیم بندی کرد:

  • آنالیز عنصری: در این روش تنها نوع عنصر و یا مقدار آن مشخص شده ولی ساختار بلوری عنصر یا ماده تعیین نمی شود. نام دیگر این روش آنالیز شیمیایی است.
  • آنالیز فازی: در این نوع آنالیز، ساختار بلوری یا کانی های موجود در ماده مشخص می شود.
  • آنالیز ریز ساختاری: در این روش شکل، اندازه و توزیع فازها مورد بررسی قرار می گیرد. این ویژگی ها اثر مهمی بر خواص نهایی ماده دارند.

علاوه بر سه دسته ی فوق، دو روش دیگر، آنالیز سطح و آنالیز حرارتی نیز وجود دارند که به علت اهمیت کاربردی به صورت جداگانه و مستقل بررسی می شوند. یکی از آنالیز هایی که براساس بر هم کنش بین پرتوی ایکس و نمونه شکل گرفته،  آنالیز xps یا طیف سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس است.

xps روشی به منظور بررسی سطح نمونه تا عمق حدود ۱۰۰ انگستروم از نظر آنالیز عنصری، ترکیب شیمیایی و تعیین حالت پیوندی است. با توجه به این نکته که انرژی جنبشی الکترون های گسیل شده بر اثر یونیزاسیون یک ماده با فوتون تکفام پرتو ایکس مورد انداز ه گیری قرار می گیرد، طیف فوتوالکترون های آن ماده، بر مبنای تعداد الکترون های گسیلی برحسب انرژی ترسیم می گردد.

در واقع XPS را می توان یک روش شیمیایی کمّی و کیفی دانست که در آن سطح نمونه ی جامد و قسمتی از عمق نمونه تحت تاثیر بمباران یونی قرار گرفته و نوع و ترکیب شیمیایی عناصر موجود در سطح نمونه قابل استخراج می شود.

دیدگاه‌ها (0)

دیدگاهها

هیچ دیدگاهی برای این محصول نوشته نشده است.

فقط کاربرانی که خریدار این محصول هستند میتوانند نظر خود را ارسال کنند.