طیف‌بینی ‌الکترونی اوژه (AES) یک تکنیک متداول برای مطالعه ‌و آنالیز ترکیب سطح مواد بر مبنای اثر اوژه است‌. در این روش یک پرتو الکترونی متمرکز نمونه مورد نظر را بمباران می‌کند و یک الکترون از لایه داخلی به بیرون انداخته می‌شود. جای خالی باقی مانده از این الکترون باید مجددا توسط الکترونی از لایه‌های بالاتر پر شود. زمانی که الکترونی از لایه‌های بالایی این جای خالی را پر می‌کند، ممکن است تغییر انرژی آن در حدی باشد تا الکترون سومی را از مدار خود خارج کند. به این الکترون الکترون اوژه می‌گویند.

با مطالعه و تعیین انرژی جنبشی این الکترون‎ها، می‌توان اطلاعات بسیار مفیدی از سطح ماده تا عمق ۱۰ تا ۳۰ آنگستروم کسب کرد. الکترون‌های اوژه تنها از عمق کمی از ماده می‌توانند خارج شوند، به همین جهت است که این طیف نگاری صرفا برای مطالعات سطحی کاربرد دارد. در بسیاری از مطالعات اخیر در حوزه نانوذرات، مطالعات مرزدانه‌ای و رسوبات از این روش استفاده شده است.

اگر علاقه‌مند به آشنایی بیشتر با این روش آنالیز هستید، این پاورپوینت به شما بسیار کمک خواهد کرد. در این فایل کلیه اصول و مبانی و همچنین روش تحلیل نتایح و کاربردهای طیف نگاری الکترونی اوژه کاملا ارائه شده‌اند و می‌توانید به عنوان یک سمینار جامع کلاسی از آن استفاده کنید.

عناوینی که در فایل پاورپوینت طیف سنجی الکترون اوژه ارائه شده اند عبارت‌اند از:   

• تعریف و کاربردها
• تاریخچه
• مکانیزم و اصول
• دستگاه انجام آنالیز اوژه و اجزای آن
• مزایا و محدودیت‌های طیف نگاری اوژه
• روش‌های تحلیل کمی نتایج
• کاربرد طیف نگاری اوژه در مقالات

جهت آشنایی بیشتر با محتوای این فایل آموزشی، تعدادی از صفحات نخست آن به صورت فایل PDF قرار داده شده است که می توانید آن را ملاحظه نمایید.